緊湊的測(cè)試儀，用于快速、準(zhǔn)確地鑒定無(wú)源光元器件（復(fù)用器/解復(fù)用器、濾波器、分光器等）和模塊（ROADM、WSS）。覆蓋從1240到1680 nm的頻譜范圍，因此可在整個(gè)電信頻段上進(jìn)行測(cè)量。借助PDL選件，可同時(shí)測(cè)量插損和偏振相關(guān)損耗。

主要功能

• 快速測(cè)量變換函數(shù)（插損）

• 波長(zhǎng)范圍：1240-1680 nm（SMF型號(hào)）

• PM和PDL選件

• 波長(zhǎng)分辨率：1至250 pm

• 波長(zhǎng)精度：±5 pm

• 動(dòng)態(tài)范圍：?jiǎn)未螔呙钑r(shí)65 dB

• 最多可結(jié)合4個(gè)可調(diào)諧激光器（SMF型號(hào)）

• 配備四個(gè)內(nèi)部檢測(cè)器，可通過(guò)同步進(jìn)行擴(kuò)展

• 19英寸機(jī)架支持1U版本

快速測(cè)量插損

CT400地將高速電子設(shè)備和光干涉測(cè)量技術(shù)結(jié)合起來(lái)。四個(gè)集成的檢測(cè)器使您能夠同時(shí)測(cè)量四個(gè)通道，單次激光器掃描的動(dòng)態(tài)范圍為65 dB。此外，可在任何掃描速度實(shí)現(xiàn)±5 pm的波長(zhǎng)精度，因此不需要在測(cè)量速度和精度間進(jìn)行取舍。

準(zhǔn)確測(cè)量插損

CT440緊湊型測(cè)試儀集成了一個(gè)監(jiān)測(cè)光電探測(cè)器，在掃描期間補(bǔ)償來(lái)自激光光源的任何功率波動(dòng)。可以不考慮激光器掃描速度，在1和250pm之間選擇采樣分辨率。除了±5 pm的波長(zhǎng)精度外，內(nèi)置的波長(zhǎng)計(jì)可減輕對(duì)可調(diào)諧激光光源（TLS）的要求，從而在不影響測(cè)量性能的情況下降低系統(tǒng)成本。CT440在與TLS和PC連接時(shí)，可提供執(zhí)行測(cè)量所需的各種功能。

緊湊型測(cè)試儀支持全頻段

CT440（SMF型號(hào)）覆蓋從1240到1680 nm頻譜范圍，且*兼容EXFO的T100S-HP系列可調(diào)諧激光器。例如，將T100S-HP-O+、T100S-HP-ES、T100S-HP-CLU和CT440 SMF型號(hào)結(jié)合起來(lái)，實(shí)現(xiàn)全頻段測(cè)試。在使用多臺(tái)TLS時(shí)，CT440可自動(dòng)在激光器間切換，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫的全頻段測(cè)量。它與DUT間只需進(jìn)行一次連接，這意味著不需要外部開(kāi)關(guān)。

                                用于全頻段鑒定的典型配置

PM選件

CT440-PM可測(cè)量對(duì)偏振很敏感的元器件（如MZ調(diào)制器）的插損，此時(shí)在TLS輸入和輸出端口間需要一條偏振保持光纖。有兩個(gè)型號(hào)，使用PM13型光纖覆蓋O頻段（1260 nm至1360 nm），或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段（1440 nm至1640 nm）。因此，這些型號(hào)要求偏振保持的可調(diào)諧激光器，例如分別要求T100S-HP-O-M和100S-HP-SCL-M。

PDL選件

CT440-PDL集成了一個(gè)偏振態(tài)發(fā)生器，從而能夠通過(guò)連續(xù)的偏振控制掃描，鑒定插損和偏振相關(guān)損耗的頻譜（基于穆勒矩陣法）。有兩個(gè)型號(hào)，使用PM13型光纖覆蓋O頻段（1260 nm至1360 nm），或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段（1440 nm至1640 nm）。因此，這些型號(hào)要求偏振保持的可調(diào)諧激光器，例如分別要求T100S-HP-O-M和T100S-HP-SCL-M。

                              使用CT440-PDL測(cè)量PDL

其它功能

激光線外差檢測(cè)（SMF型號(hào)，TLS輸入端口數(shù)≥2）

可將被測(cè)信號(hào)（SUT）連接到TLS第二個(gè)輸入端口上。在激光器掃描整個(gè)波長(zhǎng)范圍的過(guò)程中，CT440會(huì)在穿過(guò)SUT波長(zhǎng)時(shí)生成并檢測(cè)干涉圖樣。因此，CT440可用作多波長(zhǎng)計(jì)。

使用*的基準(zhǔn)激光器或光纖耦合的氣體腔重新校準(zhǔn)系統(tǒng)

可使用支持外差檢測(cè)功能的基準(zhǔn)激光器，或支持波長(zhǎng)基準(zhǔn)測(cè)試功能的氣體腔，進(jìn)一步提高精度。

帶內(nèi)置分析功能的控制軟件

提供直觀全面的GUI，便于激光器管理、基準(zhǔn)測(cè)試、掃描配置和濾波器分析。

*的遠(yuǎn)程控制

借助DLL和CT440隨帶的示例軟件代碼，可隨時(shí)將元器件測(cè)試整合到復(fù)雜的遠(yuǎn)程控制程序中。

外形小巧

CT440有全新的機(jī)架式版本（高度為1U），是空間有限的實(shí)驗(yàn)室的理想之選。

備注

a. 用于采樣分辨率為5 pm，> 5 nm進(jìn)行的TLS掃描，對(duì)于PDL-O和PDL-SCL，采樣分辨率為1 pm，不包括TLS掃描的加速和減速部分。
b. 在波長(zhǎng)基準(zhǔn)測(cè)試后。
c. 對(duì)于檢測(cè)器上的入射功率> -30 dBm。精度：±0.5 dB，用于-30 dBm和-60 dBm之間的功率。
d. 1260 nm至1640 nm。
e. 如果激光器輸入功率 = 10 mW（動(dòng)態(tài)范圍與激光器輸出功率成比例）。
f. 對(duì)于檢測(cè)器上的入射功率 > -30 dBm，根據(jù)分辨率為5 pm時(shí)6個(gè)狀態(tài)測(cè)量結(jié)果確定。
g. 穩(wěn)定的測(cè)試條件，建議用于較高PDL的6個(gè)狀態(tài)。
h. 選擇的激光器頻率范圍除以本地采樣分辨率。